光谱共焦测量模式及产品分类

 　　位移测量模式输出z方向的高度值，导入XY位移量后可直接输出点云坐标。这种模式与三坐标、结构光和激光三角测量方法一致，但不同的在于光谱共焦支持反射面的测量，并具有亚微米级别的测量精度。

位移测量模式可以适用于大多数精密尺寸测量场景，提供点、线、面多种方法测量采样。点测量技术适用于测量物体振动和液体高度，输出方式不同时序的Z方向值来辅助分析。线测量可连续记录运动样品表面的Z方向值，供断差检测和2D尺寸分析用途。面测量研究提供样品表面形成完整的三维形貌数据，可进行综合性的包括粗糙度等项目在内的分析。

厚度测量模式

光谱共焦法在测量玻璃、镜片等透明样品时，不同波长的两束光在样片正反表面聚焦，在导入样品折射系数参数之后，可计算出该样品的厚度值。相比于游标卡尺等传统的接触式测量工具，光谱共焦测量拥有所有非接触式光学测量的优势，同时还具有单侧测量即可获取样品厚度值的特性。

折射系数可以直接影响厚度测量的数据分析精度，因此在实际测量开始时应先确认样品的折射率。折射率可参考同类产品材料的数值，但如需获得一个更高精度的厚度测量研究结果，需借助折光仪测得样品的折射率。

模式切换

光谱共焦的两种测量模式可以在软件界面中自由切换，无需重启设备或系统。因此，无论是测量样品的表面尺寸，还是测量透明材料的厚度，或者同时获得透明样品的外部尺寸和厚度的信息，光谱共焦测量技术都能从容应对。

光谱共焦产品分类

光谱共焦在外观精密检测中应用广泛，按产品类别通常可分为点光谱共焦位移传感器和3D线光谱共焦传感器。在2D检测应用中只需识别表面X/Y轴的特征，比如曲面度、粗糙度、段差等，此外采用特殊支架可实现Z方向的双头测厚；但是对于一些在线全检的应用需要检测更多的测量区域，并且还要获取被测物表面Z轴信息，这时候需要3D线光谱共焦传感器来提升检测的节拍。

海伯森技术（深圳）有限公司深耕工业视觉检测技术研发，开发出业内领先的光谱共焦系列传感器产品，涉及2D和3D检测领域，并能提供丰富的产品选型，满足不同复杂检测场景需要。值此一提的是，海伯森近日发布了一款新型同轴式检测的3D线光谱共焦传感器HPS-LCX1000，具备更为优异的角度兼容性能，海伯森已然成为全球唯一一家同时具备同轴式/斜射式结构、2D/3D检测光谱共焦传感器产品的制造商！